AFM

Raman Mikroskopie AFM

Leistungsfähige, benutzerfreundliche Rasterkraft-Mikroskopie für die Material- wissenschaften, die Life Sciences und die Nanotechnologie.

Das alpha300 A AFM-System beinhaltet ein wissenschaftliches, optisches Mikroskop, das für erstklassige Probenbeobachtung und hochauflösende Probenuntersuchungen bestens geeignet ist. Ein spezielles AFM-Objektiv ermöglicht in hoher Auflösung die gleichzeitige Sicht auf die Probe und auf den AFM-Spitzen-Cantilever. So kann der Cantilever präzise positioniert und die Messvorrichtung an die spezifische Probe angepasst werden. Durch die Benutzerfreundlichkeit und vielseitige Einsatzmöglichkeit des alpha300 A können vielfältige wissenschaftliche Fragestellungen erfolgreich bearbeitet werden.

Kontakt-, AC-, Magnetkraft-, Nanolitographie- und temperatur-kontrollierter Modus sind mit dem alpha300 A durchführbar. So wird höchste Flexibilität über die gesamte Bandbreite der AFM-Anwendungen sichergestellt.

Das alpha300 A ist perfekt an die Untersuchung topographischer Strukturen in höchster Auflösung angepasst. Es liefert beste Ergebnisse, unabhängig von der Umgebung (z.B. Luft, Flüssigkeit) oder den Probeneigenschaften. Auch anspruchsvolle oder weiche Proben können untersucht werden. Das alpha300 A ist ausserdem mit dem Pulsed Force Modus ausgestattet. Damit können im Nanometermassstab Oberflächeneigenschaften, wie beispielsweise die lokale Adhäsion oder Steifigkeit, gemeinsam mit der Topographie dargestellt werden. Dies ist vor allem für die Materialforschung von Bedeutung.