MFA / AFM

La microscopie à force atomique, puissante et facile à utiliser pour les sciences des matériaux, les sciences de la vie et la nanotechnologie.

Le système de microscopie à force atomique (MFA) alpha 300A comprend un microscope optique scientifique, idéal pour une observation performante des échantillons et des analyses des probes à haute résolution . Une lentille MFA spéciale permet l’observation à haute résolution simultanée de l'échantillon et de la pointe du cantilever. Ainsi, le cantilever peut être positionné avec précision et le dispositif de mesure peut être adapté à l'échantillon donné.

Grâce à la facilité d’emploi et aux multiples possibilités d’utilisation de alpha300 A, diverses questions scientifiques peuvent être traitées avec succès.

Alpha300 facilite des modes de contrôle par contact, courant alternatif, force magnétique, nanolithographie et température. Ainsi la flexibilité maximale est assurée par la gamme complète des applications de la MFA. Le dispositif alpha300 A est parfaitement adapté à l'étude des structures topographiques en plus haute résolution. Il fournit les meilleurs résultats, quels que soient l’environnement (air, liquide) ou les caractéristiques de l’échantillon. Les échantillons les plus délicats peuvent être également examinés.

Alpha300 A est également équipé du mode de travail Pulsed Force. Ceci permet aux propriétés de surface à l'échelle nanométrique telles que l'adhérence locale ou la rigidité d’être affichées en même temps que la topographie. Cet aspect est particulièrement important dans le domaine de la recherche des matériaux. 

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