SNOM

SNOM - Imagerie illimitée avec une résolution exceptionnelle

Alpha300 S de WITEC comprend un microscope confocal, un microscope optique en champ proche (en anglais Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) et un microscope à force atomique (AFM), réunis en un seul appareil. Par la simple rotation de la tourelle porte-objectifs, il est possible de passer d’une application à l’autre (la microscopie confocale, SNOM et AFM). Alpha300 S utilise les capteurs uniques brevetés Cantilever-SNOM.  Construits au moyen d’un procédé spécial de microtechnique, ils sont notablement supérieurs aux sondes de fibre optique en matière de résolution, transmission, fonctionnalité et fiabilité. 


SNOM-cantilever consiste d’une pyramide creuse attachée à l’extrémité supérieure à travers de laquelle le faisceau laser est focalisé et le champ proche est généré. En outre, le cantilever est utilisé pour le contrôle à distance du support et de l'échantillon, d’après le principe de déflexion de faisceau (beam deflection principle).  Ainsi, des informations topographiques peuvent être collectées et affichées en même temps que les images optiques.  

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