EDX

Qu'est-ce qu'une analyse EDX ?

L'EDS/EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) est une méthode d'analyse rapide des éléments et de la composition des échantillons. Elle est basée sur l'émission d'un rayonnement X caractéristique qui se produit lorsqu'un électron quitte la couche interne d'un atome. Ce rayonnement a une énergie spécifique pour chaque élément, qui sert à identifier les éléments (Be à Cf) dans l'échantillon (analyse qualitative). En outre, l'intensité des rayons X peut être utilisée pour mesurer la teneur des différents éléments (analyse quantitative). Les systèmes modernes offrent également des représentations de la distribution des éléments en temps réel, ce qui permet une microscopie interactive et une imagerie chimique en direct pendant les expériences in situ.

Gamme de produits

La microanalyse à l'aide d'un microscope électronique est une méthode largement utilisée pour la détermination des éléments par l'enregistrement d'un spectre de fluorescence des rayons X. La variété des détecteurs EDS d'Oxford Instruments nous permet de concevoir un ensemble adapté à votre application et à votre budget, qui peut être relié à un microscope électronique Zeiss ou autre. Les applications vont de la simple acquisition de spectres ponctuels à l'analyse automatisée de particules. Depuis quelque temps, le logiciel EDS d'Oxford Instruments permet également de travailler dans le respect des directives GxP.

Les détecteurs EDS Ultim Max utilisent une technologie haut de gamme pour atteindre une vitesse et une sensibilité inégalées sans compromettre la précision ou la qualité. Cette gamme de détecteurs associe les plus grands capteurs (jusqu'à 170 mm2) à une électronique extrême pour obtenir des performances remarquables.

Seul Ultim Max offre des performances garanties à basse (CKa et FKa) et haute énergie (MnKa) au même taux de comptage hautement productif de 130 000 cps pour toutes les tailles de capteurs. Les performances sont testées sur un MEB avant l'expédition et à nouveau lors de l'installation pour garantir que chaque Ultim Max fournit des résultats exceptionnels, même dans les conditions analytiques les plus exigeantes (taux de comptage élevés, faible kV, tests insitu).

Tous les détecteurs Ultim Max peuvent être déployés rapidement et facilement en cas de besoin et rétractés lorsqu'ils ne sont pas utilisés grâce à une glissière motorisée intégrée.

• Les tailles de capteurs de 40 mm2 à 170 mm2 offrent toutes les mêmes performances analytiques.
• Résolution garantie à CKa de 46 eV ou mieux à tous les taux de comptage jusqu'à 50 000 cps.
• Résolution garantie à MnKa de 127 eV ou mieux à tous les taux de comptage jusqu'à 200 000 cps.
• Nouveau traitement unique des spectres Tru-Q® IQ. Chaque détecteur est caractérisé dans le MEB pendant la fabrication et optimisé individuellement pour garantir un traitement précis des données à chaque fois.
• Le traitement des impulsions à l'infini et la correction des empilements permettent l'identification des éléments et l'affichage d'une véritable distribution des éléments sans artefact.

Xplore

Un détecteur pour l'EDS général (modèle d'entrée de gamme)

Le détecteur EDS Xplore est conçu pour les analyses SEM de routine. Il intègre la même technologie éprouvée que les détecteurs à grande surface Ultim Max, leaders de leur catégorie. Les utilisateurs peuvent donc s'attendre à obtenir les mêmes résultats de haute qualité, mais dans un format beaucoup plus petit. 

Les détecteurs Xplore sont disponibles avec des tailles de capteur allant jusqu'à 65 mm2 et offrent tous une résolution Mn Kα garantie de 129 eV sur votre MEB. De plus, cette résolution est garantie dans des conditions de travail réelles (jusqu'à 100 Kcps). Le Xplore est donc le détecteur idéal pour tous ceux qui recherchent la fiabilité et la précision d'un détecteur haut de gamme à un prix abordable.

Unity BEX

BEX combine l'imagerie par électrons rétrodiffusés et l'imagerie par rayons X (BEX) en une seule technique, simultanément. Il s'agit d'une percée dans l'industrie, car elle intègre le meilleur des deux techniques pour réduire le temps de détection.

BEX combine les informations topographiques, cristallographiques, atomiques et élémentaires en une sortie visuelle instantanée pendant que vous naviguez dans votre échantillon. Vous n'avez donc plus à vous fier à la chance ou à votre jugement pour trouver les zones d'intérêt dans votre échantillon. Au lieu de cela, BEX vous permet d'examiner instantanément les résultats et de vous concentrer sur les points d'intérêt ou de passer à autre chose.