SNOM

Microscopie Raman SNOM

SNOM - une imagerie sans limite avec une résolution supérieure.

L'alpha300 S de WITec comprend un microscope confocal, un microscope optique à champ proche à balayage (SNOM) et un microscope à force atomique (AFM) combinés en un seul appareil. Une simple rotation de la tourelle porte-objectifs permet de passer de la microscopie confocale au SNOM et à l'AFM.

Dans l'alpha300 S, des capteurs brevetés uniques SNOM en porte-à-faux sont utilisés. Elles sont fabriquées par microtechnique grâce à un procédé spécial et surpassent de manière significative les sondes à fibres optiques connues jusqu'à présent en termes de résolution, de transmission, de facilité d'utilisation et de fiabilité.

Une pyramide creuse avec une ouverture est fixée au cantilever SNOM le faisceau laser est focalisé et le champ optique proche est généré à travers cette ouverture. En outre, le cantilever sert à contrôler la distance entre l'échantillon et le support selon le principe de la déviation du faisceau (beam deflection principle). Cela permet de collecter et d'afficher des informations topographiques en même temps que les images optiques.