Raman/AFM/SNOM

Grâce à la construction modulaire des microscopes WITec il est possible de proposer au choix des techniques d'échantillonnage à balayage, de microscopie optique à haute résolution et de microscopie Raman, soit individuellement, soit combinées dans un seul appareil. Cela permet d'obtenir une flexibilité maximale sur un large éventail d'applications.

La construction du microscope fonctionne selon le principe modulaire: il est par exemple possible de commencer avec un microscope Raman confocal et de l'élargir plus tard avec la microscopie à force atomique (AFM). Il est ainsi possible d'obtenir et de mettre en relation des informations chimiques Raman et structurelles AFM provenant de la même région d'échantillon avec un seul appareil. Pour obtenir des informations optiques à haute résolution, le microscope peut également être équipé en plus de la technique de microscopie à champ proche (Scanning Near-field Optical Microscopy, SNOM).

Ces techniques de microscopie permettent de réaliser des analyses d'échantillons non destructives à l'échelle nanométrique, sans ou avec peu de préparation d'échantillons. Grâce à la grande flexibilité et à la convivialité des microscopes, la technique d'examen peut être parfaitement adaptée aux caractéristiques de l'échantillon, ce qui permet d'optimiser le résultat.

Des exemples d'applications typiques se trouvent dans tous les domaines des sciences des surfaces et des matériaux, les géosciences, les sciences de la vie, la recherche pharmaceutique, la nanophotonique ainsi que la nanotechnologie.