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EPHJ-EPMT-SMT 14.-17. Juni 2016, Palexpo Genf

Sie überprüfen die Qualität von technischen Oberflächen, analysieren die Ergebnisse der...
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Neue Zusammenarbeit mit Technoorg LINDA

* * Seit Beginn dieses Jahres hat Gloor Instruments die Distribution von...
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Focused Ion Beam (FIB) System in einer heissen Zelle

* * Gloor Instruments gewinnt die Ausschreibung für ein FIB im Nuklearbereich...
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Beam deceleration – ein interessantes Zuebhör für konventionelle REM’s

Wird auf einem Probe im Raster-Elektronenmikroskop eine Gegenspannung aufgebracht, landen die...
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